TOF-SIMS

(Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectroscopy)

特 長

  • ppm/ppbレベルの高い検出感度
  • 質量数の大きな分子イオンも測定可能
  • 60mm□までの大面積試料が測定可能
  • 深さ方向のプロファイリングが可能

用 途

  • 試料最表面に付着する無機物元素、及び有機物の同定
  • ウェーハ表面汚染、残渣、転写物、洗浄効果の確認
  • LCDの表示異常原因調査 (シミ、ムラ、ハジキ)

分析事例