SIMS

(Secondary Ion Mass Spectroscopy)

特 長

  • 高感度分析 数十μm領域からppmオーダーの検出
  • 深さ方向分析が可能 μmオーダーからnmの範囲の分析
  • 全ての元素分析が可能 周期律表全ての元素分析
  • 標準試料を用いて、定量分析可能

用 途

  • ドーパントの深さ方向濃度プロファイル
  • 不純物評価・薄膜の分析 (表面近傍、膜中及び界面に
    存在する不純物の深さ方向濃度分布測定)

分析事例